Sessie
From Data to Insight: Innovative Diagnostics powered by AI
Datum
woensdag 3 juni 2026
Tijd
15:45 - 16:30
Thema
Computertomografie, CT, Echografie, Kwaliteit en Veiligheid, Leiderschap en Management, Mamma Radiologie, Medische Techniek, MRI Veiligheid NL, Nucleaire Geneeskunde, Stralingshygiëne
Locatie
Atlanta 1
Beschrijving
Spreker: prof. Peter van der Spek - Erasmus MC